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霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)HET-3

霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)HET-3，霍爾性能測(cè)試，同時(shí)測(cè)試材料的霍爾系數(shù)、載流子濃度、電阻率、遷移率。

現(xiàn)在申請(qǐng)

霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)HET-3，霍爾性能測(cè)試，同時(shí)測(cè)試材料的霍爾系數(shù)、載流子濃度、電阻率、遷移率。

薄膜變溫電阻測(cè)試儀TRT-3

電阻率測(cè)試，測(cè)試薄膜、塊體材料電阻率隨溫度的變化。

現(xiàn)在申請(qǐng)

電阻率測(cè)試，測(cè)試薄膜、塊體材料電阻率隨溫度的變化。

光功率熱分析儀OPA-3

光功率熱分析儀OPA-3進(jìn)行相變溫度以及熱膨脹系數(shù)測(cè)試，同時(shí)對(duì)薄膜、塊體進(jìn)行相變溫度以及熱膨脹系數(shù)測(cè)···

現(xiàn)在申請(qǐng)

光功率熱分析儀OPA-3進(jìn)行相變溫度以及熱膨脹系數(shù)測(cè)試，同時(shí)對(duì)薄膜、塊體進(jìn)行相變溫度以及熱膨脹系數(shù)測(cè)···

測(cè)試項(xiàng)目